3 紅外光譜法

 

    紅外光譜法是化合物結(jié)構(gòu)定性分析的主要手段之一，也是分析高聚物材料的最佳技術(shù)之一。常規(guī)的紅外分析方法有壓片法、涂膜法、漫反射法等，但對(duì)一些特殊樣品，如難溶、難熔、難粉碎的試樣（如合成樹脂、橡膠、塑料、纖維、珍珠、翡翠、織物、膠囊等），就很難直接測(cè)得紅外光譜。采用衰減全反射（ATR）分析可以方便地克服上述困難。該方法應(yīng)用范圍廣泛，制樣簡(jiǎn)單，無需前處理，不破壞樣品就可以直接進(jìn)行紅外分析，所測(cè)得的紅外光譜與透射光譜譜帶位置、形狀完全一致，不存在干涉條紋，特征譜帶清晰。

 

    衰減全反射原理可以簡(jiǎn)單地概括為：當(dāng)入射角大于臨界角時(shí)，入射光在透入光疏介質(zhì)（樣品）一定深度后，會(huì)折回射入全反射晶體中；進(jìn)入樣品的光，在樣品有吸收的頻率范圍內(nèi)會(huì)被樣品吸收而強(qiáng)度衰減，在樣品無吸收的頻率范圍內(nèi)被全部反射。ATR光譜就是置于晶體上樣品的紅外光譜，反映出來的是光線經(jīng)過的那部分樣品化學(xué)鍵分子的運(yùn)動(dòng)特征，亦即表面或界面的化學(xué)特征。ATR光譜的強(qiáng)度取決于有效穿透強(qiáng)度、反射次數(shù)和樣品與反射晶體的接觸程度以及樣品本身對(duì)光吸收的大小。而有效穿透強(qiáng)度取決于3個(gè)因素：1）光波波長(zhǎng)；2）反射晶體與樣品的折射率比；3）入射角。影響樣品與反射晶體接觸程度的主要因素是樣品與晶體間的壓力。

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